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      工業CT原理說明

      日期:2022-07-12 18:07
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      摘要:工業CT原理說明 工業CT是在射線檢測的基礎上發展起來的,其基本原理是當經過準直且能量I0的射線束穿過被檢物時,根據各個透射方向上各體積元的衰減系數從不同,探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像(圖1),重復上述過程又可獲得一個新的斷層圖像,當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線束穿過非均勻物質后,其衰減遵從比爾定律: 為已知量,未知量為μ。一幅M×N個像素組成的圖像,工業CT必須有M×N個獨立的方程才能解出衰減系數...
      工業CT原理說明
            工業CT是在射線檢測的基礎上發展起來的,其基本原理是當經過準直且能量I0的射線束穿過被檢物時,根據各個透射方向上各體積元的衰減系數從不同,探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法,即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像(圖1),重復上述過程又可獲得一個新的斷層圖像,當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線束穿過非均勻物質后,其衰減遵從比爾定律:  為已知量,未知量為μ。一幅M×N個像素組成的圖像,工業CT必須有M×N個獨立的方程才能解出衰減系數矩陣內每一點的μ值。當射線從各個方向透射被檢物體,通過掃描探測器可得到MXN個射線計數和值,按照一定的圖像重建算法,即可重建出MXN個μ值組成的二維CT灰度圖像。


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